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   SL536-2011 X 射线衍射应力测定装置校验方法SL536-2011 X 射线衍射应力测定装置校验方法 本标准包括制备和使用扁平状零应力试样,目的是为了检查用X射线衍射法进行残余应力测试时的系统误差,该系统误差是由于仪器未校准、试件设置不准或两者兼有引起的。本标准适用于X射线衍射应力测定装置,该方法借助测量高角度背反射区域中衍射峰的位置。仪器中的2θ和ψ的回转中心应重合。本标准描述了使用铁粉试样校验用于铁素体钢和马氏体钢应力测定的仪器。对于其他金属材料,应使用与被测合金有同样晶体结构的金属粉末以相似的方式制备,以适当的衍射角校验仪器。
英文名称:Standard test method for verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation for residual stress measurement
发布日期:2011-07-12
实施日期:2011-10-12

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