IEEE 1620-2008 Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and MateriaIEEE 1620-2008 Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
部份国外标准涉及版权问题,所以全部国外标准于2013年02月,全部删除!相关页面仅提供参考消息。