本规范适用于X射线荧光镀层测厚仪的校准。
本规范引用下列文献:
JJF1001—1998 通用计量术语及定义
JJF1059—1999 测量不确定度评定与表示
JJF1094—2002 测量仪器特性评定
GB/T16921—2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法
使用本规范时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
目录
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 概述 (1)
4 计量特性 (1)
4.1 厚度测量重复性 (1)
4.2 示值稳定性 (1)
4.3 厚度测量示值误差 (1)
5 校准条件 (2)
5.1 环境条件 (2)
5.2 校准所用标准器及配套设备 (2)
6 校准项目和校准方法 (2)
6.1 校准前准备 (2)
6.2 厚度测量重复性 (2)
6.3 示值稳定性 (2)
6.4 厚度测量示值误差 (3)
7 校准结果表达 (3)
8 复校时间间隔 (3)
附录A 测量结果不确定度评定(示例) (4)
附录B 厚度标准块的技术要求 (7)
附录C 常见典型镀层材料的厚度范围 (9)
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