GB/T 25184-2010 X射张光电子能谱仪检定方法

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更新时间： 2012-11-24 09:17:11
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关键字：方法检定谱仪电子光电子能谱光电子光电能谱
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文档介绍

　　　GB/T 25184-2010 X射张光电子能谱仪检定方法GBT 25184-2010 X射张光电子能谱仪检定方法

    本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法.本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线，且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
2规范性引用文件
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的，凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文
件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用本文件。
    GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
    GB/T 21006-2007表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标的线性(ISO 21270:2004,IDT)
    GB/T 22461-2008表面化学分析词汇(ISO 18115 : 2001, IDT)
    GB/T 20175-2006表面化学分析溅射深度剖析用层状膜系为参考物质的优化方法
(ISO 14606:2000,IDT)
    GB/T 22571-2008表面化学分析X射线光电子能谱仪能量标尺的校准(ISO 15472:2001,IDT)

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