JIS C5402-6-2-2005 Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-2- DynamiJIS C5402-6-2-2005 Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-2- Dynamic stress tests -- Test 6b- Bump
部份国外标准涉及版权问题,所以全部国外标准于2013年02月,全部删除!相关页面仅提供参考消息。