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SJ20068-1992 半导体分立器件 2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管详细规范
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SJ20069-1992 半导体分立器件2CK76型硅开关二极管详细规范
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SJ20070-1992 半导体分立器件 2CK105型硅开关二极管详细规范
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SJ20071-1992 半导体分立器件 2CK4148型硅开关二极管详细规范
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SJ20011-1992 半导体分立器件GP、GT和GCT级CS1型硅N沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
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SJ20012-1992 半导体分立器件GP、GT和GCT级CS4型硅N沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
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SJ20013-1992 半导体分立器件GP、GT和GCT级CS10型硅N沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
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SJ20014-1992 半导体分立器件GP、GT和GCT级3CG110型PNP硅小功率晶体管详细规范
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GB/T15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
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GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
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国家标准
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GB/T15656-1995 超扭曲向列型液晶显示器件 空白详细规范
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GB/T15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
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SJ/T10414-1993 半导体器件用焊料
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JB/T9684-2000 电力半导体器件用散热器选用导则
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JB/T9687.1-1999 电力半导体器件用钼圆片
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SJ1587-1980 电真空器件用钍钨铼丝
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SJ1587-1980 电真空器件用钍镍铼丝
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SJ1538-1987 电真空器件用镍及镍合金化学成分
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SJ1539-1987 电真空器件用镍及镍合金薄壁管
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SJ1540-1987 电真空器件用镍及镍合金丝
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SJ1541-1987 电真空器件用镍及镍合金带
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SJ1542-1987 电真空器件用镍及镍合金化学分析方法
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SJ1543-1988 电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法
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SJ1538-1979 电真空器件用镍及镍合金及其化学分析方法
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SJ2915-1988 微波铁氧体单晶器件名词术语和定义
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SJ2852-1988 半导体分立器件 大功率管管座管帽详细规范
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JB/T10096-2000 电力半导体器件管壳结构及选用导则
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JB/T10097-2000 电力半导体器件和管壳
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SJ20644.1-2001 半导体光电子器件GD3550Y型PIN光电二极管详细规范
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GJB5018-2001 半导体光电子器件筛选与验收通用要求
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GJB5022-2003 PIN-APD 光电探测器件通用规范
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GJB33A-1997 半导体分立器件 总规范
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GB/T18310.48-2007 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-48部分:试验 温度湿度循环
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国家标准
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GB/T18310.5-2002 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-5部分 试验 扭转扭绞
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GB/T18310.6-2001 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-6部分 试验 锁紧机构抗拉强度
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GB/T18310.7-2002 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-7部分 试验弯矩
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GB/T18310.8-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-8部分 试验 碰撞
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GB/T18310.9-2003 纤维光学互连器件和无源器件-基本试验和测量程序 第2-9部分试验-冲击
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GB/T18310.2-2001 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-2部分 试验 配接耐久性
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GB/T18310.21-2002 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-21部分 试验 温度-湿度组合循环试验
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GB/T18310.22-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-22部分 试验-温度变化
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GB/T18310.26-2003 纤维光学互连器件和无源器件-基本试验和测量程序 第2-26部分 试验-盐雾
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GB/T18310.3-2001 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-3部分 试验 静态剪切力
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GB/T18310.39-2001 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-39部分:试验 对外界磁场敏感性
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GB/T18310.4-2001 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-4部分 试验 光纤光缆保持力
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GB/T18310.42-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-42部分 试验-连接器的静态端部负荷
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