[国家标准] GB/T16601-1996 光学表面激光损伤阈值测试方法 第1部分 1对1测试 [FZ纺织行业] FZ/T80007.3-2006 使用粘合衬服装耐干洗测试方法 [国家标准] GB/T16656.32-1999 工业自动化系统与集成产品数据的表达与交换 第32部分 一致性测试方法论与框架 对测试实验室和客户的要求 [国家标准] GB/T16656.31-1997 工业自动化系统与集成 产品数据的表达与交换 第31部分：一致性测试方法论与框架：基本概念 [国家标准] GB/T16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法 [CB船舶行业] CB3395-1992 残余应力测试方法 钻孔应变释放法 [国家标准] GB/T15868-1995 全球海上遇险与安全系统(CMDSS) 船用无线电设备和海上导航设备通用要求测试方法和要求的测试结果 [国家标准] GB/T15838-1995 数字同步网中交换设备时钟性能的测试方法 [国家标准] GB/T16656.34-2002 工业自动化系统与集成产品数据表达与交换 第34部分：一致性测试方法论与框架 应用协议实现的抽象测试方法 [SJ电子行业] SJ2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法 [国家标准] GB/T16294-1996 医药工业洁净室(区)沉降菌的测试方法 [SJ电子行业] SJ2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电 参数测试方法 总则 [SJ电子行业] SJ2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列陈盲区宽度的测试方法 [SJ电子行业] SJ2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列陈串光因子的测试方法 [国家标准] GB/T16406-1996 声学 声学材料阻尼性能的弯曲共振测试方法 [国家标准] GB/T16295-1996 通用键盘汉字输入技能测试方法 [SJ电子行业] SJ2354.14-1983 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法 [SJ电子行业] SJ2354.13-1983 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法 [SJ电子行业] SJ2354.12-1983 雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法 [SJ电子行业] SJ2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法 [SJ电子行业] SJ2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法 [SJ电子行业] SJ2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法 [SJ电子行业] SJ2355.4-1983 半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法 [SJ电子行业] SJ2355.3-1983 半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法 [SJ电子行业] SJ2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 [SJ电子行业] SJ2355.5-1983 半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法 [SJ电子行业] SJ2355.6-1983 半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法 [SJ电子行业] SJ2355.1-1983 半导体发光器件测试方法 总则 [SJ电子行业] SJ2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法 [SJ电子行业] SJ2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法 [SJ电子行业] SJ2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法 [SJ电子行业] SJ2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法 [SJ电子行业] SJ2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 [SJ电子行业] SJ2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则 [SJ电子行业] SJ2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法 [SJ电子行业] SJ1879-1981 气体激光器发散角的测试方法 [SJ电子行业] SJ1877-1981 气体激光器光束方向偏移的测试方法 [SJ电子行业] SJ1881-1981 气体激光器偏振度的测试方法 [SJ电子行业] SJ2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法 [SJ电子行业] SJ2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则 [SJ电子行业] SJ1880-1981 气体激光器频率漂移的测试方法 [SJ电子行业] SJ1876-1981 气体激光器输出功率稳定性的测试方法 [SJ电子行业] SJ2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法 [SJ电子行业] SJ2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法 [FZ纺织行业] FZ/T80007.1-2006 使用粘合衬服装剥离强力测试方法 [FZ纺织行业] FZ/T80007.2-2006 使用粘合衬服装耐水洗测试方法 [国家标准] GB/T16293-1996 医药工业洁净室(区)浮游菌的测试方法 [国家标准] GB/T15942-1995 900MHz公用移动通信系统移动台进网技术要求及测试方法 [SJ电子行业] SJ2215.9-1982 半导体光耦合器(三极管)反向截止电流的测试方法 
您的位置: