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SJ/T10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
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SJ/T10459-1993 太阳电池温度系数测试方法
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SJ/T10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法
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GJB5186.4-2004 数字式时分制指令响应型多路传输数据总线测试方法 第4部分:总线控制器生产测试方法
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YD/T615-1993 64,2048,8 448 34 368kbit-s相位抖动测试仪技术条件
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YD/T627-1993 数字交换机数字中继接口(2048kbit-s)参数及数字中继接口间传输特性和测试方法
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GB11604-1989 高压电器设备无线电干扰测试方法
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GB4518-1984 家用缝纫机 缝料层潜移量测试方法
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