如何测量ic的好坏

时间:2016-12-17 来源:网络 作者:佚名 收藏到我的收藏夹
简介:芯片一般是不会坏的,如果坏的话最常见的也是击穿损坏,你可以用万用表测量一下芯片的供电端对地的电阻或电压,一般如果在几十欧姆之内或供电电压比正常值低,大部分可以视为击穿损坏了,可以断

×100或R×1k挡。

3.测量IC引脚参数时,要注意测量条件,如被测机型、与IC相关的电位器的滑动臂位置等,还要考虑外围电路元件的好坏。

5. 非在线数据与在线数据对比法

所谓非在线数据是指集成电路未与外围电路连接时,所测得的各引脚对应于地脚的正反向电阻值。非有线数据通用性强,可以对不同机型、不同电路、集成电路型号相同的电路作对比。具体测量对比方法如下:首先应把被查集成电路的接地脚用空心针头和铬铁使之与印刷电路板脱离,再对应于某一怀疑引脚进行测量对比。如果被怀疑引脚有较小阻值电阻连接于地或电源之间,为了不影响被测数据,该引脚也可与印刷板开路。直至外电路的阻值不影响被测集成电路的电阻值为止。但要注意一点,直流电阻测量对比法对于不同批次同一型号的集成电路,有一定的误差和差异,对这种情况,要在了解内部结构的基础上,进行分析、判断。

6. 替换法

用替换法判断集成电路的好坏确是一种干净利索的事,可以减少许多检查分析的麻烦。但必须注意如下几点:

1. 尽量选用同型号的集成电路或可以直接代换的其它型号,这样可不改变原机电路的引线,简便易行,容易恢复原机的性能指标。

2. 更换拆焊原机上的集成电路时,不要急躁,不能乱拔、乱撬引脚,用所具备的条件选择最适合拆卸集成电路的方法。

3. 在还没有判断外围电路是否有故障,以及未经确认原集成电路已损坏之前,不要轻易替换集成电路,否则换上去的集成电路有可能再次报废。

4. 有些集成电路,虽然其型号相同,但还要考虑其型号后缀不同。例如M5115P与M5115RP,二者引脚功能排列顺序相反等。

5. 有时采用试探性替换,此时最好先装一专用集成电路插座,或用细导线临时连接,这样好坏对比方便。另外,在通电前电源Vcc回路里最好再串接一直流电流表,降压电阻阻值由大到小观察集成电路总电流的变化是否正常。对于功放电路一定要按规定装好散热片。

6. 在选用同功能但不同型号和不同引脚排列的集成电路代换时,还应注意以下几点。

a. 尽量选用功能、引脚、电特性相近的集成电路。

b. 改变引脚连线时,应尽量利用印刷板上的孔位和线路,连线要整齐,信号线的前后段不要交叉,以免电路产生自激。

c. 集成电路的供电电压应与集成电路的电源电压Vcc的典型值相符。

d. 集成电路的各信号输入、输出阻抗要与原电路相匹配,连接好的集成电路在通电前应作最后一次的检查,确认电路无误后再接通电源。

7.总电流测量法

该法是通过检测IC电源进线的总电流,来判断IC好坏的一种方法。由于IC内部绝大多数为直接耦合,IC损坏时(如某一个PN结击穿或开路)会引起后级饱和与截止,使总电流发生变化。所以通过测量总电流的方法可以判断IC的好坏。也可用测量电源通路中电阻的电压降,用欧姆定律计算出总电流值。

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